Jun 16, 2026 메시지를 남겨주세요

수동적 감지에서 능동형 지능형 제어로: 광학 테스트 및 측정으로 제조 경계가 재편됩니다.

고급{0}}생산이 점점 더 극도의 정밀도에 가까워짐에 따라 광학 부품의 제조 정확도와 검사 난이도가 전례 없는 수준으로 높아지고 있습니다. 광학 테스트 및 측정 기술의 역할은 엄청난 변화를 겪고 있습니다. AR/VR 광 도파관의 복잡한 자유형 표면 검사, 자동차-등급 LiDAR의 대량 교정, 고급 패키징에서 TSV 비아의 서브-미크론 비파괴 결함 탐지- 등 광학 측정 및 검사 장비는 R&D부터 대량 생산까지 전체 체인에 깊이 내장된 기술 반복 및 산업 구현을 위한 "표준 척도"가 되었습니다. 올해 9월에 개최될 예정인 CIOE 정밀 광학 엑스포 및 카메라 기술 및 응용 엑스포에서는 이 분야의 핵심 기술 혁신과 산업 응용을 집중적으로 선보일 예정입니다.

자유형 광학 측정: 가전제품 및 지능형 차량의 핵심 광학 부품 대량 생산 병목 현상 해소

광학 설계 분야에서 자유형 표면 기술의 핵심 가치는 전통적인 구면 및 축대칭 비구면 표면의 제약을 깨고 여러 광학 기능을 단일 구성 요소에 통합하여 시스템 부피를 획기적으로 압축하고 무게를 줄이며 이미징 품질을 향상시키는 데 있습니다. 이러한 특성으로 인해 AR/VR 헤드셋의 광 도파관 결합 구성요소, 자동차 LiDAR의 스캐닝 프리즘 및 수신 렌즈, 고급-스마트폰 렌즈에 중요한 선택이 됩니다. 그러나 고정밀 제조의 전제는 고정밀-측정입니다. 자유 형태 표면의 형태 정확도는 서브-미크론 수준에서 나노미터 수준으로 발전했으며, 이러한 구성 요소는 복잡한 비회전 대칭 프로필을 특징으로 하는 경우가 많습니다.- 기존 오프라인 프로파일로미터 검사는 시간이 많이 걸리고-현대적인 생산 리듬을 맞추는 데 어려움을 겪습니다.

업계 리더들은 이러한 과제를 극복하기 위한 노력에 박차를 가하고 있습니다.육각형에서는 최근 몇 년간 고급 광학 측정과 로봇 공학을 융합하여 미크론{0}}수준의 정밀 측정부터 대규모{1}}구성품 검사에 이르기까지 광범위한 요구 사항을 충족하고 다양한 규모의 제조 시나리오에 유연하고 구성 가능한 솔루션을 제공하는 자동 검사 시스템을 지속적으로 도입해 왔습니다. 당사가 독자적으로 개발한 여러 광학 측정 장치중투 악기최고의 과학 연구 기관에 입사했습니다. 독점적인 레이저 간섭 기술을 기반으로 하는 광섬유{1}}광섬유 레이저 스케일 제품은 반도체 및 초정밀 처리에 대한 국지적 폐쇄형-루프 측정 지원을 제공하는 것을 목표로 하며, 수입 의존성을 깨고 독립적이고 제어 가능한 측정 체인을 구축하기 위한 확실한 발걸음을 내디뎠습니다.테일러 홉슨자유형 표면 검사에서 비접촉 3D 광학 측정 시스템의 효율성을 계속해서 최적화하고 있습니다.- 자동화된 지능형 기능을 도입함으로써 생산 라인 테스트의 순조로움이 크게 향상되었으며, 고정밀 측정을 전문적인 "느리고 세심한 작업"에서 생산-라인-등급의 "신속한 교정"으로 전환했습니다. 이러한 기술적 성과와 응용 사례는 실험실 프로토타입과 대규모{7}}대량 생산 사이의 자유형 광학에 대한 주요 병목 현상을 점차적으로 해결하여 AR/VR 및 자동차 LiDAR와 같은 신흥 산업의 신속한 채택을 위한 신뢰할 수 있는 품질 보증을 제공합니다.

산업용 지능형 검사: 지능형 제조에 "지치지 않는 눈"을 갖추다

자유형 측정이 개별 광학 부품의 고정밀 성형을 다루는 경우{0}}산업용 지능형 검사는 전원 배터리부터 자동차 스탬핑, 광학 렌즈부터 전자 어셈블리까지 전체 생산 라인의 품질 문제를 해결합니다.{1}} 검사를 위한 산업 생산 요구 사항은 오랫동안 기존 머신 비전의 범위를 뛰어넘었습니다. 빠르고 정확해야 할 뿐만 아니라 복잡하고 가변적인 재료, 다{4}}다양한 전환 및 무인 공장의 지속적인 작동에 적응해야 합니다. 이로 인해 광학 측정과 AI가 심층적으로 통합되어 검사 시스템이 "결함 확인"에서 "결함 이해"로 업그레이드되었습니다.

고정밀 광학 측정 분야에서 쌓아온-풍부한 축적을 활용하여,파나소닉의 초-초정밀 표면 프로파일 측정 장비 시리즈는 고급 광학 장치 및 VA 홈과 같은 초정밀 가공 시나리오에서 검증 및 품질 관리를 위한 벤치마크 역할을 계속하고 있습니다.- 동시에 레이저 변위 센서와 같은 생산 라인 응용 제품을 확장하여 전체 고급 제조 공정에서 중추적인 역할을 하기 위해 노력하고 있습니다.{4}}동정광학산업용 렌즈 및 광학 이미징 솔루션 공급업체인 는 머신 비전 및 지능형 검사 시나리오를 계속해서 깊이 탐구하고 있습니다. 최근에는 산업용 렌즈 제품군을 확대하고 다수의 핵심 특허를 확보하는 데 진전을 이루었습니다. 개발된 라인 스캔 렌즈, 텔레센트릭 렌즈 및 기타 제품은 리튬 배터리 비전 검사, 평면 패널 및 유리 결함 검사 및 기타 시나리오에 적용되어 지능형 제조 기업이 생산 라인에서 포괄적이고 자동화된 품질 관리의 실현을 가속화하는 데 도움이 됩니다. AI 이미지 처리 알고리즘이 성숙해짐에 따라 광학 검사 장비는 독립형 검사 도구에서 프로세스 최적화 피드백 루프 내의 핵심 데이터 노드로 진화하고 있습니다.

반도체 광학 측정: 칩 수율을 위한 "나노미터{0}}규모 방어선" 강화

산업용 지능형 검사가 매크로 생산 라인에서 '결함을 포착'한다면, 반도체 광학 측정은 미세한 칩 세계에서-마이크로 칩의 '수율을 보호'하므로 어떤 프로세스에서도 오류가 허용되지 않습니다. 제조 공정이 더욱 정교한 노드로 발전함에 따라 웨이퍼 표면의 입자, 패턴 결함, 오버레이 오류 또는 미세 균열과 같은 나노미터{2}}크기의 결함-으로 인해 칩 전체가 실패할 수 있습니다.{4}} 비접촉식 및 높은-처리량 이점을 활용하는 광학 검사 장비는 프런트-웨이퍼 결함 검사 및 백엔드 고급 패키징 측정 분야에서 가장 주류 기술 경로로 남아 있습니다.-

자이스는 깊은 광학 전통을 바탕으로 포토마스크 및 웨이퍼 검사부터 패키징 오류 분석까지 전체 칩 제조 공정에 걸쳐 포괄적인 솔루션을 제공하면서 반도체 산업 체인에 지속적으로 힘을 실어주는 동시에 제조 효율성과 신뢰성을 향상시키기 위해 업계 표준을 적극적으로 조정합니다.유코텍의 백색광 간섭계 AM{2}}8000 시리즈는 수많은 고속 나노미터 압전 세라믹을 탑재하고 고유한 SST+GAT 및 약한{5}}광 추출 알고리즘으로 구동되며 원클릭 자동 초점 및 레벨링 기술과 조화를 이룹니다.- 실리콘 웨이퍼, 칩 및 고속 장치를 빠르고 효율적으로 측정할 수 있으며, 나노미터 미만의 검사 정밀도를 달성하여 마이크로 지형 치수, 단차 높이, 거칠기와 같은 중요한 데이터를 신속하게 캡처하고 R&D 및 생산을 위한 강력한 데이터 지원을 제공합니다.브루커광열 적외선 원자력 현미경 분광법(PTIR-AFM) 기술 개발을 가속화하고 나노-IR 분광학의 적용 범위를 기존의 나노 규모 오염 물질 분석에서 고급 반도체 재료 및 장치 아키텍처에 대한 광범위한 연구로 확장하고 차세대 칩 프로세스 R&D를 위한 핵심 화학적 특성 분석 기능을 제공하고 있습니다.키엔스머신 비전과 자동화된 광학 검사를 지속적으로 반복하여{0}}고정밀 3D 스캐닝 측정 및 현미경 분석 제품 라인을 확장하여 효율성과 지능 측면에서 업계 우위를 유지하고 있습니다.아이디어옵틱스분광 검사에 중점을 두고 있는 에서는 차세대 프런트엔드-반도체 공정 검사 솔루션도 출시했습니다. 엘립소메트리(ellipsometry) 측정 기술은 에칭 및 증착과 같은 중요한 공정 단계에서 뛰어난 막 두께 감지 기능을 보여주며 고급 노드에서 없어서는 안 될 인라인 모니터링 도구가 되었습니다. 동시에 광학 측정 트랙에 대한 자본 시장의 관심도 계속해서 뜨거워지고 있습니다. 다수의 M&A 및 금융 사건을 통해 이 분야의 전략적 가치가 업계와 자본 모두에서 두 배로 인식되었음을 알 수 있습니다.

전체-광학 테스트 및 측정의 체인 집합: 구성요소부터 시스템까지 모든 것이 한 곳에 있습니다.

글로벌 광전자 산업 체인 원스톱 플랫폼인 CIOE(China International Optoelectronic Exposition)가 2026년 9월 9일-11일부터 선전 세계 전시 컨벤션 센터에서 개최됩니다. 정밀 광학 엑스포 & 카메라 기술 및 응용 엑스포에서는 광학 측정 기기, 광학 이미징 시스템, 머신 비전, 산업 자동화 등 핵심 부문을 중심으로 광학 테스트 및 측정 분야의 최신 성과를 집중적으로 선보일 예정이며, 광학 재료 및 정밀 부품 처리부터 측정 장비 및 소프트웨어 알고리즘에 이르기까지 원스톱 기술 역량을 종합적으로 포괄합니다.{6}} 이번 전시회에서는 자유 곡면 및 비구면과 같은 복잡한 광학 부품에 대한 나노미터{7}} 수준의 표면 프로필 측정 솔루션을 선보일 예정이며, AI 알고리즘과 통합되어 생산 라인에서 실시간 결함 판단 및 분류를 달성하고 산업 사용자 및 과학 연구 기관을 위한 효율적인 기술 매치메이킹 플랫폼을 구축하는 온라인 비전 검사 시스템도 선보일 예정입니다.

참여 기업으로는 Hexagon, Zeiss, Taylor Hobson, Zygo, Mitutoyo, Panasonic, Zhongtu Instruments, Keyence, Yuchuan Optics, Berlin All{0}}Optics, Qanyao Optics, Chengdu Tech, InterTech, Motic, Beijing Optotech, UCOTEC, Hanhua Semiconductor, Zhaofeng, Xiaogan Huazhong Precision, Suzhou Heihe Electronics, Hangzhou Topu, Bruker, 광저우가 있습니다. Jinghua, Ideaoptics, Guangheng, Kefeng, Dongzheng Optics, Tuojie, Ankuo, Zhichang Technology, Photon Precision, Taiwan Ultra{1}}Micro Optics, Jinan Sensen, Marposs, Xingqing Optics 등*특별한 순서가 없는 회사의 일부 목록입니다.

또한 전시장에서는 '광반도체 검사 기술 포럼'을 개최하여 업계 전문가와 기업 대표가 한자리에 모여 AI 기반 지능형 검사 솔루션은 물론 고급 노드 및 패키징을 위한 고속,{1}}고정밀-측정 방법에 대해 심도 있게 논의할 예정입니다. 산학연 공동 혁신을 촉진하고, '수동 감지'에서 '능동 지능형 제어'로 이동하는 반도체 검사의 새로운 산업 경로를 공동으로 구축하는 것을 목표로 합니다. "초-초정밀/나노 광학 제조 기술 포럼" 및 "CIOE 광학 진공 코팅 컨퍼런스"와 같은 동시 포럼에서는 메타/나노 및 초정밀 처리의 교차-규모 검사 솔루션뿐만 아니라 광학 코팅에서 필름 레이어의 정확한 측정 및 제어도 다룰 예정입니다.

세 가지-Expo 연결: "표준 측정"에서 "활성화"까지의 광학 테스트 및 측정 단계

자유형 표면 및 산업 지능형 검사에서 반도체 광학 측정에 이르기까지 광학 테스트 및 측정은 수동적 품질 검증에서 능동적 프로세스 최적화의 핵심으로 전환되고 있습니다. 측정 방법은 인라인 및 지능형 적응을 통해 생산 라인에 대한 침투를 가속화하고 있으며, 품질 관리를 "이벤트 후 게이트키핑"에서 "-공정 중 제어"로 전환하고 있습니다. AI 및 에지 컴퓨팅과 결합된 대규모 마이크로{4}}지형 데이터는 '설계-제조-검사-수정'의 폐쇄 루프를 형성하고 있습니다. 이 정확하고 지능적인 라인-임베딩 가능 측정 솔루션은 제조 분야에서 "기술 민주화"를 주도하고 있습니다.

올해 CIOE는-IICIE(국제 집적 회로 혁신 전시회) 및 elexcon Shenzhen Electronics Show와 함께 개최되며 총 규모는 340,000평방미터에 달하고 5,000개 이상의 전시업체가 모여 광전자공학, 집적 회로 및 전자 시스템의 전체 생태계를 포괄합니다. CIOE에서는 자유 곡면, 산업용 지능형 검사, 반도체 측정을 ​​포괄하는 포괄적인 범위의 광학 테스트 솔루션을 찾을 수 있습니다. 한편 IICIE에서는 프론트-웨이퍼 리소그래피 오버레이 오류 측정 및 필름 두께 감지, 백-고급 패키징 TSV 측정 및 범프 동일 평면성 검사는 물론 접합 품질에 대한 비파괴 광학 테스트를 포함한 전체 반도체 광학 측정 솔루션을-보실 수 있습니다. 3개{11}}엑스포 연결은 기술 선택과 비즈니스 매치메이킹을 효율적으로 완료하는 데 도움이 되며 검사 요구 사항에서 실제 솔루션까지 '라스트 마일'을 실제로 연결합니다.

9월 9일부터 11일까지 심천 세계 전시 컨벤션 센터에서 광학 테스트 및 측정의 가치 도약을 여러분과 함께 목격할 수 있기를 기대합니다.

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